作者: 昂洋-柯正發表時間:2018-07-28 11:36:27瀏覽量:12229【小中大】
貼片電容為什么要進行老化處理?貼片電容器的容量隨時間以對數規律降低(之稱之為老化)。然而,如果貼片電容器發熱溫度高于其介質的居里點時,此時產生“去老化”現象,即通過老化發生的容量降低重新恢復,當電容器恢復冷卻時,老化又隨時間產生。
貼片電容器去老化條件:將貼片電容器放在上限類別溫度或按詳細規范中可能規定的更高溫度(150℃)下經1h 后,接著在試驗的標準大氣條件下恢復24±1h。
根據各類材質隨時間衰減系數見以下曲線圖:
貼片電容測試條件:
項目 Item |
技術規格 Technical Specification |
測試方法 Test Method Remarks |
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容量 Capacitance |
Ⅰ類 ClassⅠ (COG/NPO) |
應符合指定的誤差級別 Should be within the specified toleance |
標稱容量 Capacitance |
測試頻率 Measuring Frequency |
測試電壓 Measuring Voltage |
≤1000PF |
1MHz±10% |
1.0V±0.2V |
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>1000PF |
1KHz±10% |
1.0V±0.2V |
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Ⅱ類 Class Ⅱ |
應符合指定的誤差級別 Should be within the specified toleance |
C≤10uF 測試頻率:1KHz±10% 1.0V±0.2V Test Frequency: 1KHz±10% Test Voltage: 1.0V±0.2V C>10uF X7R X5R Y5V 測試頻率:120Hz±24Hz 0.5V±0.05V Test Frequency: 120Hz±24Hz Test Voltage: 0.5V±0.05V |
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測試溫濕度:25±5℃ 50%-70% |
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